กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

รายละเอียด

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) เป็นเครื่องมือที่ทันสมัยในการตรวจสอบและวิเคราะห์พื้นผิวของวัสดุในระดับไมโครเมตร โดยใช้ลำแสงอิเล็กตรอนส่องกราดไปบนพื้นผิวของตัวอย่างเพื่อสร้างภาพที่มีความละเอียดสูง ซึ่งแสดงผลได้ทั้ง ภาพแบบ Secondary Electron - SE และ Backscattered Electron - BSE

นอกจากนี้ยังสามารถใช้เทคนิค Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) หรือ EDX ในการวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุ ซึ่งช่วยให้สามารถ:

• วิเคราะห์ธาตุเฉพาะจุด (Point Analysis)
• วิเคราะห์ธาตุแบบแนวเส้น (Line scan Analysis)
• วิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิว (Mapping Analysis)

ตัวอย่างบริการวิเคราะห์

• บริการถ่ายภาพ SEM: กำลังขยาย 40 ถึง 100,000 เท่า
• บริการวิเคราะห์ชิ้นงานประเภท: ของแข็ง ผง และไม่นำไฟฟ้า
• บริการวิเคราะห์วัสดุ: โลหะ, โลหะผสม, พลาสติก, พอลิเมอร์ และเส้นใยธรรมชาติ
• บริการตรวจสอบองค์ประกอบทางเคมี: การวิเคราะห์ธาตุในจุดเฉพาะ, การวิเคราะห์ธาตุแบบเส้น และการกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิววัสดุ

ข้อจำกัดในการใช้งาน

• ชิ้นงานไม่เป็นน้ำมัน
• ชิ้นงานไม่มีความชื้น
• น้ำหนักชิ้นงานไม่เกิน 500 กรัม
• ชิ้นงานต้องมีขนาดไม่เกิน 120 มม. x 50 มม. (กว้าง x สูง)